IRIS 연구장비정보시스템

장비 소개

장비설명(기능)

샘플표면을 Nano(1nm~수십nm) 지름을 갖고 있는 Probe을 사용하여 Tip과 샘플을 피드백하여 나노스케일로 표면 분석을 하는 장비로, Electrochemistry AFM & STM의 측정이 Atomic Resolution에서 측정이 가능 하며, EFM, MFM, KPFM등의 전기적, 물리적 특성을 측정이 가능합니다. 새로 개발된 PeakForce Tapping 기반의 ScanAsyst 측정모드를 통하여 기존의 SPM 보다 작은 힘인 50pN(기존 AFM의 1/10의 힘)로 샘플표면을 직접적으로 측정하고 이때 얻어지는 F-D curve기반 데이타로 고해상도 이미징이 가능합니다. 또한 기존에 없는 스캔 최적화를 통해 자동으로 측정이 가능하고, 기존 일반 장비에서는 접근하지 못한 데이터 측정을 가능하게 하여 나노스케일의 표면연구에 반드시 필요한 장비입니다.
위와 같은 기능으로 지금까지 일반적인 AFM으로 측정이 어려웠던 전기전자, 고분자, 반도체, 박막, 바이오등 다양한 기초 소재 측정을 통하여 유용하고 정확한 데이터를 얻을 수 있습니다.
특히 기존의 AFM으로는 측정이 불가능한 기체환경조절 환경내에서 다양한 AFM의 동작이 가능하여 일반 환경에서는 연구 하기 불가능한 환경에 영향을 받는 시료의 정밀한 측정이 가능한 연구 설비입니다. 또한 self-image optimization을 통해 오퍼레이터의 스킬과 무관하게 고해상도의 이미지를 자동으로 측정할수 있게 하므로 재현성과 함께 사용법이 쉽고 구축 후 공동활용이 가능한 장비입니다.

구성 및 성능

<장비구성>

1. MultiMode SPM with Applications Module-ready Head System Package (1set)
2. Vertical Engage Leak Resistant AFM Scanner (1set)
3. Scanner (1set)
4. Cantilever Holder for Scanning in Fluid (1set)
5. Electrochemistry TappingMode SPM Fluid Cell (1set)
6. Electrochemistry STM Converter Head (1set)
7. Multimode Atmospheric Hood Cylinder (1set)
8. Objective Lens for Use with Atmospheric Hood (1set)
9. Glove Box with Vibration Table (1set)

<장비구성품 상세모델내역>

1.MULTIMODE-8-GB-ACTIVE:MultiMode 8 SPM configured for the Active Vibration Isolation
Glovebox 1EA
2.MM-AM HEAD:MultiMode SPM Head-Application Module Ready 1EA
3.MM-240V:Power configured for operation in ASIA 1EA
4.MM-SINGLE:Factory Supplied Monitors 1EA
5.OMV-UNIV:Video-only Microscope System 1EA
6.AS-12VLR-2:10 x 10-micron Vertical Engage Leak Resistant AFM Scanner 1EA
7.AS-0.5-2: 0.4 x 0.4-micron Scanner 1EA
8.MTFML-V2:Cantilever Holder for Scanning in Fluid (TappingMode, Force
Modulation) with the MultiMode SPM 1EA
9.FC PART:Fluid Cell Accessory Kit 1EA
10.UNIVECPOT:Universal Bipotntiostat for Electrochemistry on Multimode SPMs 1EA
11.MMTMEC:Electrochemistry TappingMode SPM Fluid Cell for the Multimode SPM 1EA
12.MMSTMEC:Electrochemistry STM Converter Head 1EA
13.EDGE-MMGB-220:Turnkey Glovebox for Dimension Edge and MultiMode 8 SPMs(220V) 1EA
14.MM-PFQNM: NanoScope PeakForce QNM Software Option for the MultiMode 8 SPM 1EA
15.ITCS3: Three-day Installation and Training for new Systems 1EA
16.Nano Serie: Active Vibration Isolation Table for Multimode8 1EA

사용예

- AFM으로 측정이 어려웠던 전기전자, 고분자, 반도체, 박막, 바이오등 다양한 기초 소재 측정 기능을 통하여 Axion 연구에 유용하고 정확한 데이터를 얻는데 활용.

-불가능한 기체환경조절 환경내에서 다양한 AFM의 동작이 가능하여 일반 환경에서는 연구 하기 불가능한 환경에 영향을 받는 시료의 정밀측정으로 사용.

-self-image optimization을 통해 오퍼레이터의 스킬과 무관하게 고해상도의 이미지를 자동으로 측정할수 있게 하므로 재현성이 좋아 초전도성 박막의 이미지작업에 활용